zoeken

 

 
 


minimaliseer deze extra opties
 
 

SEM’s voor materiaalanalyse


21 juni 2013
ECN-E&EE heeft twee nieuwe Scanning Elektronen Microscopen (SEM) met uitgebreide mogelijkheden voor materiaalanalyse in gebruik genomen.

Het betreft een FEG-SEM (Hitachi SU70) en de variabele druk SEM (Hitachi S3700). Met deze SEM's en monster voorbereidingsapparatuur (Ion Miller) beschikt ECN over state of the art apparatuur voor materiaalkundig onderzoek. De apparatuur wordt gekenmerkt door flexibele inzetbaarheid en ruime gebruiksmogelijkheden. Beide SEM's hebben hun eigen toepassingsmogelijkheden. De FEG-SEM met Schottky emitter voor hoge resoluties, met element analyses middels Energie Dispersieve Spectraalanalyse (EDS), met Golflengte Dispersieve Spectraalanalyse (WDS), is bovendien geschikt voor kristallografisch onderzoek met Electron Back Scattering Diffraction (EBSD). Met deze FEG-SEM zijn hoge resoluties tot sub-nanometer schaal mogelijk, afhankelijk van het te onderzoeken materiaal. Ook elektrisch slecht geleidende materialen, zoals aluminium oxide, zijn zonder monstervoorbereiding te onderzoeken. Hiermee worden bijeffecten van dergelijke monstervoorbereidingen, waarbij meestal dunne geleidende lagen worden opgebracht, voorkomen.

INFO: ECN, www.ecn.nl

       
 

Reacties

Er zijn nog geen reacties op dit artikel.

Hier kunt u een reactie plaatsen bij het bericht SEM’s voor materiaalanalyse .
Uw e-mailadres zal niet op de website worden getoond.
Uw naam *
Uw E-mail *
Uw bericht *
 
 

Productinnovaties

 

Nieuws per sector

 
 
 

Focus op bedrijven

meer...
Links Rechts
 
 

Gratis e-mailnieuwsbrief

Op de hoogte blijven van het laatste nieuws uit uw branche, recente marktplaats aanbiedingen en meer? Meld u dan nu aan voor de gratis nieuwsbrief.
Aanmelden